白光干涉儀測量原理是什么

曉飛儀器

　　白光干涉儀的測量原理基于干涉現(xiàn)象，具體來說是利用不同波長的光在不同路徑上的相位差導(dǎo)致的干涉條紋變化。下面是白光干涉儀的基本工作原理：
　　光源：白光干涉儀使用的是白光源（即包含多個波長的光源），例如普通的白光燈或激光。白光源的特點是包含廣泛的光譜成分。
　　分束器和光路分離：白光通過分束器被分成兩束或更多束光。每一束光都會通過不同的光路，最終合并回同一點。這些光路徑的不同長度會導(dǎo)致兩束光之間產(chǎn)生相位差。
　　干涉現(xiàn)象：兩束分離的光在合并時，會根據(jù)它們的相位關(guān)系發(fā)生干涉。如果兩束光的相位差為整數(shù)倍的波長，它們會發(fā)生相長干涉（亮條紋）；如果相位差為半波長的奇數(shù)倍，它們會發(fā)生相消干涉（暗條紋）。
　　白光的特點：由于白光包含多個波長的光，因此在干涉時，不同波長的光會有不同的干涉效果。不同波長的光會在不同位置產(chǎn)生干涉條紋，這會導(dǎo)致干涉圖樣變得更加復(fù)雜。只有特定的波長在干涉過程中達(dá)到一致的相位關(guān)系。
　　干涉圖樣的分析：通過分析白光干涉圖樣中的條紋（亮暗變化），可以獲取干涉條紋的位置變化，從而推算出與光程差、表面形貌、厚度等物理量相關(guān)的信息。
　　分辨率與精度：白光干涉儀由于使用了多種波長的光，通常能夠提供非常高的分辨率，適用于高精度的測量。通過分析干涉條紋的細(xì)節(jié)變化，可以非常精確地測量微小的物理量，比如表面粗糙度、膜層厚度等。
　　總的來說，白光干涉儀的核心原理就是利用干涉現(xiàn)象，并通過分析干涉條紋的變化，提取出所需要的物理參數(shù)。

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