光學輪廓儀的功能

米勒儀表

光學輪廓儀是一種非接觸式測量儀器，具有多種重要功能：  
表面粗糙度測量  
可精確測量各種材料表面的粗糙度參數(shù)，如Ra（算術平均粗糙度）、Rz（輪廓最大高度）等，能夠快速獲取微觀不平整度信息。  
形貌測量  
能夠對物體表面的三維形貌進行重構和測量，可精確測量物體的尺寸、形狀以及表面的微觀結構，如臺階的高度、斜坡角度、溝槽的深度和寬度、焊縫的寬度和高度等。  
薄膜厚度測量  
可用于測量透明或半透明薄膜的厚度，如半導體制造中的薄膜沉積層、光學鍍膜以及其他需要精確控制薄膜厚度的領域。  
缺陷檢測  
能夠檢測物體表面的缺陷，劃如痕、裂紋、孔洞、凹坑等，通過對表面形貌的詳細分析，幫助用戶快速識別和定位缺陷位置，確定缺陷的尺寸和深度。  
輪廓分析  
可對物體的邊緣輪廓進行分析，測量物體的邊界形狀、邊緣角度、圓角半徑等參數(shù)，對于機械加工、電子制造等領域中的零件形狀控制具有重要意義。  
微觀結構分析  
能觀察夠和分析材料表面的微觀結構，如晶粒尺寸、相界面、晶體取向等，為材料科學研究提供重要的微觀結構信息。

勞資蜀道山

回復太及時了，正好能解決我的問題。