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原子力顯微鏡(AFM)與掃描電鏡(SEM)在成像原理、分辨率、樣品要求、操作環境及應用領域等方面存在顯著差異,具體分析如下: 1.成像原理 AFM:通過檢測探針與樣品表面原子間的相互作用力(如范德華力、靜電力)來成像。探針尖端與樣品表面接觸或接近時,微懸臂因受力發生形變,激光干涉或隧道電流檢測法將形變轉化為高分辨率圖像,反映樣品表面形貌及物理性質(如硬度、彈性模量)。 SEM:利用高能電子束掃描樣品表面,電子與樣品相互作用產生二次電子、背散射電子等信號。探測器收集這些信號并轉化為圖像,主要反映樣品表面形貌及成分信息(結合能譜儀可分析元素組成)。 2.分辨率 AFM:極限分辨率達0.1納米,可觀測原子級表面細節,是三者中分辨率最高的技術。 SEM:分辨率范圍為20納米至0.8納米,受電子槍發射原理及電磁透鏡焦距影響,雖低于AFM,但仍能清晰顯示納米級結構。 3.樣品要求 AFM: 導電性無要求:可觀測絕緣體、導體及生物樣品(如DNA、細胞)。 表面平整度要求高:樣品需非常平坦(如A4紙因粗糙無法直接觀測),否則影響成像質量。 SEM: 導電性依賴:非導電樣品需鍍金屬膜(如金、鉑)以增強導電性,否則電荷積累會干擾成像。 尺寸限制小:樣品室較大,可直接放置較大尺寸固體樣品。 4.操作環境 AFM: 環境適應性強:可在常壓、液體環境或大氣中操作,無需真空條件,適合生物樣品活體觀測。 SEM: 高真空要求:電子束需在高真空環境下行進以減少能量損失和污染,延長燈絲壽命。 5.應用領域 AFM: 材料科學:評估納米材料形貌、機械性質(如硬度、彈性模量)、電子性質及磁學性質。 生物醫學:觀測生物分子、細胞及組織形貌與結構,研究生物界面及納米結構功能機制。 表面物理化學:探索表面微觀結構、力學性質及電子輸運行為。 SEM: 材料科學:直接觀察材料形貌、尺寸分布及均勻性,結合能譜分析確定物質組成。 生物學:觀測細胞、細菌、病毒等生物樣品微觀形貌,通過冷凍斷裂、噴鍍等技術暴露內部結構。 半導體行業:檢測芯片制造缺陷及雜質分布,優化工藝流程。 地質學、考古學:分析礦物相、文物成分及制作工藝。 6.優缺點對比 特性 AFM SEM
分辨率 0.1納米(最高) 20納米至0.8納米
樣品導電性 無要求 需導電或鍍膜處理
操作環境 常壓、液體或大氣環境 高真空環境
成像速度 較慢(受探頭影響大) 較快
成像范圍 較小(納米級) 較大(可觀察亞微米級細節)
三維成像 直接提供真實三維表面圖 需通過立體對技術實現三維成像
樣品制備 復雜(需樣品非常平坦) 相對簡單(非導電樣品需鍍膜)
適用領域 納米科學、生物醫學、表面物理化學 材料科學、生物學、半導體行業、地質學等 點擊這里了解更多“原子力顯微鏡”信息:https://www.chem17.com/tech_news/detail/4199115.html
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