杭州科賦機電設備有限公司
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地址：浙江省杭州市濱江區江南大道3778號A座3樓
杭州科賦機電設備有限公司成立于2011年7月，公司位于浙江省杭州市濱江區（高新區）江南大道3778號A座3樓，公司業務覆蓋浙江、江蘇、上海、安徽、福建、江西等省市，主要經營系列三坐標測量機、非標檢測試驗設備、自動化檢測集成軟件及配套硬件，亦是專業從事檢測儀器的設備集成商，公司憑借多年在材料力學、長度計量、化學分析、無損檢測等領域的從業經驗，為廣大的客戶提供了性能優良、精度高、性價優益的檢測儀器設備，公司有專業團隊，依托設備生產商的鼎力支持，為您提供推薦選型，幫助您的企業在選擇優益的技術完善您產品的可靠性檢測。為您企業提供的產品在市場競爭中保駕護航。
1、杭州科賦PONY系列三坐標測量機
機型特征
PONY系列三坐標測量機，機械結構采用橋移動式，運動平穩、精度可靠、外形美觀。是目前通用的中小型測量機，得到廣泛應用；
工作臺、橫梁和Z軸均采用天然黑色花崗巖精細研磨而成，熱膨脹系數低，溫變小。并使三軸保證相同的熱力學狀態，隨溫度成線性變化，避免了測量空間的形變和扭曲；
全封閉的三軸設計結構，預應力空氣軸承環抱式設計，軸承系統采用自清潔配以小孔節流技術，保障三軸導軌的高剛性和大承載能力，保障零磨損和流暢的操作；
有限元分析模塊化設計結構，確保穩定性的同時對于操作和維護極其方便；整機一體式設計，提高了機器的抗震性和機械精度，并確保了機器設備良好的動態性和長期穩定性。
?采用傳統的橋式移動結構
?三軸導軌采用熱穩定性好的花崗巖材質，四面環抱氣浮軸承技術
?傳動系統采用柔性齒形帶，傳動穩定無振動
?全系產品可配置單點觸發和連續掃描測頭
?Y軸（橫梁）長度800mm-2000mm，Z軸高度600mm-1500mm
?X軸長度可達5000mm。
2、杭州科賦EDS能譜儀
實時電子圖像及元素分布圖像呈現
同步呈現電子圖像以及元素分布圖同步呈現，無需在二者間頻繁切換
靈活記錄
在快速的掃描樣品時，稍做停留即可獲得高質量元素分布圖
路徑記錄
自動記錄位置信息，以及相應位置的元素信息，不會漏掉任何感興趣的特征
以不同亮度呈現元素含量的分布情況，一目了然
選擇感興趣的位置，一鍵返回
Ultim@Max提供硬件支持
大面積能譜效率效果好，是實時獲得元素面分布圖的硬件保證
Ultim?Max探頭采用了更大的SDD晶體以及高靈敏的Extreme集成電路
更大的晶體有效面積(40mm2,65mm2，100mm2,170mm2)保證了所有情況下的高計數率
低噪音X射線探測提供最準確的結果可在高達400kcps的計數率下進行準確定量
定性分析計數率高于1000kcps
3、杭州科賦MarSurf CD140輪廓測量儀
MarSurf CD 140輪廓測量儀介紹
新的測針系統結合了堅固性和穩ding性。可變的測量力甚至允許您使用MarSurf CD測量從Rz 2μm起的粗糙度。較低的工件高度和集成的TY調節也可確保穩定的測量起點。因此，即使在接近生產環境時使用，MarSurf CD系列測量站也可提供可靠而準確的結果。0.75μm的低接觸誤差允許小的生產公差。
創新的技術：
快速測軸
X 方向定位速度高達 200 mm/s
是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上
此系列所有測量站都有全功能 CNC Z 軸
Z 軸速度約是 Mahr 舊型號 Z 軸的兩倍
是市場上常見的 X 軸速度的 5 倍以上
高度靈活的智能測頭系統
通過集成芯片識別測桿
標準測量范圍高達 70 mm；490 mm 測桿時 100 mm
磁性測桿底板，更換測桿無需工具
測頭系統耐用且靈活
可選：可以擴展粗糙度評定
創新的工件固定系統
安裝板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
集成 60 mm TY 調整
安裝板和集成 TY 調整的組合使您不再需要額外的 XY 工作臺
較少的工件設置可實現較短的測量循環，因此帶來良好的測量結果
4、杭州科賦JSM-IT200掃描電子顯微鏡
■主窗口ーZeromag觀察ー
使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學CCD圖像*1，能尋找視野和定位分析位置。
■顯示譜圖和顯示元素顯示譜圖和顯示元素ーLiveAnalysis分析*2ー
通過顯示譜圖和顯示元素，能確認正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。
■數據管理圖標數據管理圖標ーSMILEVIEW
TM
Lab數據集中管理ー按下數據管理圖標并顯示數據管理窗口后，從SEM圖像到分析，對全部數據能創建批量報告、
查看數據并重新分析數據。
JSM-IT200在完成樣品交換的同時，開始觀察需要的視野。
按照導航流程操作，也可以安全、方便、可靠地交換樣品。
■樣品交換導航
樣品交換導航是從打開樣品室到開始觀察過程中進行導航的功能。
■Zeromag
只需擴大光學圖像，就可以過渡到SEM圖像
Zeromag功能將與樣品臺位置關聯的樣品架示意圖、CCD圖像*（光學圖像）和SEM圖像實現了聯動。可以直觀地尋找分析區域，只需放大光學圖像就可以過渡到SEM圖像，因而能防止弄錯觀察目標和樣品。
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發表于 2025-11-4 11:22:32
