射線測厚裝置原理

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射線測厚裝置是一種利用射線穿透材料時強度衰減的原理來測量材料厚度的設備。其基本原理是：當射線（如X射線或γ射線）穿過被測材料時，部分射線會被材料吸收，導致射線強度減弱。通過測量穿過材料后的射線強度，并與初始射線強度進行比較，可以計算出材料的厚度。  
具體來說，射線測厚裝置通常由射線源、探測器和信號處理系統(tǒng)組成。射線源發(fā)出射線，穿過被測材料后，探測器接收剩余的射線并將其轉換為電信號。信號處理系統(tǒng)根據(jù)電信號的強度變化，計算出材料的厚度。這種測量方法具有非接觸、高精度和實時性等特點，廣泛應用于鋼鐵、造紙、塑料等行業(yè)中的厚度測量和質(zhì)量控制。

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