跌落測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)及判定準(zhǔn)則

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跌落測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及判定準(zhǔn)則
1. 主要標(biāo)準(zhǔn)
?ISTA 3A：模擬運(yùn)輸環(huán)境，根據(jù)包裝重量確定跌落高度(如<20 kg對(duì)應(yīng)760 mm)。
?ASTM D5276：規(guī)定自由跌落測(cè)試方法，高度通常為0.3~1.5米，依據(jù)包裝類(lèi)型調(diào)整。
?GB/T 4857.5：中國(guó)國(guó)標(biāo)，按產(chǎn)品重量、運(yùn)輸條件設(shè)定跌落高度(如10 kg產(chǎn)品跌落800 mm)。
?MIL-STD-810G(方法516.7)?：**設(shè)備測(cè)試，跌落高度由產(chǎn)品使用場(chǎng)景決定(如手持設(shè)備1.2米)。
2. 測(cè)試參數(shù)
?跌落高度：根據(jù)產(chǎn)品重量、運(yùn)輸方式(陸運(yùn)/空運(yùn))確定。
?跌落次數(shù)：通常每個(gè)面/角/棱跌落1次。
?跌落角度：優(yōu)先角(最脆弱位置)、棱、面順序測(cè)試。
3. 判定準(zhǔn)則
?包裝完整性：無(wú)破裂、嚴(yán)重變形，緩沖材料未失效。
?產(chǎn)品功能：開(kāi)機(jī)正常，性能無(wú)退化(如屏幕顯示、按鍵響應(yīng))。
?外觀檢查：無(wú)結(jié)構(gòu)開(kāi)裂、電池泄漏等安全隱患。
?內(nèi)部損傷：通過(guò)X光或拆解檢查，確認(rèn)電路板、焊接點(diǎn)無(wú)損壞。
4. 失效判定
?嚴(yán)重缺陷：功能喪失、安全風(fēng)險(xiǎn)(如電池爆炸)。
?輕微缺陷：外觀瑕疵但功能正常，需客戶(hù)協(xié)議接受。
5. 應(yīng)用領(lǐng)域
消費(fèi)電子、包裝運(yùn)輸、軍工設(shè)備等。
測(cè)試后需出具報(bào)告，明確是否符合客戶(hù)要求或標(biāo)準(zhǔn)等級(jí)(如ISTA 3A通過(guò)級(jí))。

素質(zhì)不詳

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