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標(biāo)題: 金屬分析儀原理 [打印本頁]

作者: 景天儀器設(shè)備 時間: 2025-4-24 13:52
標(biāo)題: 金屬分析儀原理
金屬分析儀基于不同技術(shù)原理工作，常見類型及其原理如下：
一、光譜分析類金屬分析儀
1.光電直讀光譜儀
原理：利用電弧或火花激發(fā)金屬樣品，原子被激發(fā)后返回基態(tài)時發(fā)射特征光譜。通過光柵分光系統(tǒng)將光譜分解為不同波長，探測器捕捉光譜強度，計算機根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)曲線計算元素含量。
特點：可同時分析多種元素，分析速度快（幾秒內(nèi)出結(jié)果），適用于金屬冶煉、鑄造等行業(yè)的爐前快速分析。
2.X射線熒光光譜儀（XRF）
原理：X射線管發(fā)射高能X射線照射樣品，使樣品內(nèi)層電子電離，外層電子躍遷填補空穴時發(fā)射特征X射線熒光。熒光強度與元素含量成正比，通過探測器測量熒光強度實現(xiàn)定量分析。
特點：無損檢測，適用于合金、礦石、環(huán)境樣品等，可分析元素范圍廣（如Mg至U）。
3.原子吸收光譜儀（AAS）
原理：光源發(fā)射特定波長的光，通過原子化器將樣品中的元素轉(zhuǎn)化為基態(tài)原子蒸氣。基態(tài)原子吸收特定波長的光，吸收強度與元素濃度成正比，通過測量吸收強度實現(xiàn)定量分析。
特點：靈敏度高，適用于痕量元素分析，但一次只能分析一種元素。
二、質(zhì)譜分析類金屬分析儀
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）
原理：樣品通過霧化器進入等離子體炬，被電離成離子。離子經(jīng)質(zhì)量分析器分離后，檢測器測量離子流強度。通過與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)比對，實現(xiàn)元素的定性和定量分析。
特點：靈敏度極高（可檢測ppt級元素），可同時分析多種元素，適用于半導(dǎo)體、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域的超痕量分析。
三、其他類型金屬分析儀
1.火花直讀光譜儀
原理：通過高壓電火花激發(fā)樣品表面，原子被激發(fā)后發(fā)射特征光譜。光譜經(jīng)光柵分光后，探測器測量各波長光強，計算機根據(jù)標(biāo)樣數(shù)據(jù)計算元素含量。
特點：適用于黑色金屬和有色金屬的快速分析，分析速度快，操作簡便。
2.碳硫分析儀
原理：樣品在高頻感應(yīng)爐中燃燒，碳、硫元素轉(zhuǎn)化為CO?和SO?氣體。氣體通過紅外檢測池或熱導(dǎo)檢測器測量濃度，實現(xiàn)碳、硫元素的定量分析。
特點：專用于碳、硫元素分析，廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬等行業(yè)。
3.氧氮氫分析儀
原理：樣品在惰性氣氛下加熱，氧、氮、氫元素以氣體形式釋放。通過紅外檢測池或熱導(dǎo)檢測器測量氣體濃度，實現(xiàn)元素的定量分析。
特點：適用于金屬材料中氧、氮、氫元素的測定，對材料性能研究有重要意義。

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